CS-801 ASTM E1164 DIN 5033 탁상 분광 광도계

CS-810 투과 ​​분광 광도계
CS-800 ASTM E1164 ISO 7724 탁상 분광 광도계
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CS-801 ASTM E1164 DIN 5033 탁상 분광 광도계

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CS-801 ASTM E1164 DIN 5033 탁상 분광 광도계

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CS-801 ASTM E1164 DIN 5033 탁상 분광 광도계

간략한 소개

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6.시험 정확도에 영향을 미치는 재료가 적분구에 떨어지는 경우 분말 재료 측정에 매우 적합합니다.

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적분구의 크기Φ40mm
조명 광원CLED(전체 파장 균형 LED 광원)
감지기이중 광 경로 센서 어레이
파장 범위400-700nm
파장 간격10nm
반 스펙트럼 폭5nm
반사율 범위0-200%
반사율 분해능0.01%
관찰 각도2°/10°
측정 광원ㅏ,씨,D50,D55,D65,D75,F1,F2,F3,F4,F5,F6,F7,F8,F9,F10,F11,F12,DLF,TL83, TL84, NBF,U30, CWF
표시 중인 데이터샘플의 색상 값, 반사율, 색상 차이 값/그래프, 합격/불합격 결과, 색상 오류 경향, 컬러 시뮬레이션, 측정 영역 표시, bhistory 데이터 색상 시뮬레이션, 수동 입력 표준 샘플, 측정 보고서 생성
측정 시간약 1 둘째
측정 시간 간격0.5 둘째
측정 구경Φ11mm
색 공간CIE-L * a * b,L*C*h,ㄹ*u*v, XYZ, Yxy, 반사율, 헌터랩, 먼셀 MI, CMYK,RGB,HSB
색상 차이 공식ΔE*ab,ΔE*CH,ΔE*uv,ΔE*uv(2:1),ΔE*uv(1:1),ΔE*uv(ΔE*uv),555ΔE*uv
ΔE*uvΔE*uv(ΔE*uv, ΔE*uv, ΔE*uv, ΔE*uv),

ΔE*uv(ΔE*uv),

ΔE*uv(ΔE*uv,ΔE*uv),ΔE*uv,

ΔE*uv, ΔE*uv,8 ΔE*uv, ΔE*uv, ΔE*uv, ΔE*uv, ΔE*uv

반복성ΔE*uv: ΔE*uv 0.08%
ΔE*uv: ΔE*ab<ΔE*uv, ΔE*uv 30 ΔE*uv, 5 ΔE*uv，ΔE*uv:0.03
ΔE*uvΔE*uv, 20000 ΔE*uv, 7.4ΔE*uv
상호 작용ΔE*uv
ΔE*uv40000 ΔE*uv
ΔE*uv5 ΔE*uv, 1.5 ΔE*uv
ΔE*uvΔE*uv 0.2(ΔE*uv, ΔE*uv 12 ΔE*uv)
크기350*300*200mm(L*W*H)
무게4.5킬로그램
디스플레이5 ΔE*uv
ΔE*uv0ΔE*uv, 상대 습도 80% ΔE*uv， 결로 없음
ΔE*uv-25ΔE*uv， 상대 습도 80% 이하(35°C에서)， 결로 없음
이하(35°C에서)이하(35°C에서), 이하(35°C에서), 이하(35°C에서), 이하(35°C에서), 이하(35°C에서), 이하(35°C에서), USB 케이블, 이하(35°C에서), 이하(35°C에서)
이하(35°C에서)이하(35°C에서),40*10 이하(35°C에서)
이하(35°C에서)이하(35°C에서)
이하(35°C에서)이하(35°C에서)

 

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